高頻探針的測(cè)量通常是與被測(cè)器件 (DUT) 串聯(lián)進(jìn)行的。因此，測(cè)試解決方案是信號(hào)路徑的一部分。為確保最小回波損耗，測(cè)試解決方案必須具有與被測(cè)器件相同的阻抗系統(tǒng)（例如 50 Ω）。然而，如果要在閉合的信號(hào)路徑中執(zhí)行測(cè)量，則其必須確保信號(hào)路徑不會(huì)因?yàn)闇y(cè)試解決方案而受到影響。如果在這種情況下通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試解決方案進(jìn)行測(cè)量，將會(huì)損耗 50% 的能量。其原因在于，測(cè)試解決方案與測(cè)量對(duì)象并聯(lián)。為避免這種情況，INGUN 開(kāi)發(fā)了一種專(zhuān)門(mén)的測(cè)試探針，可以實(shí)現(xiàn)高阻抗的信號(hào)拾取，從而確保信號(hào)路徑不受影響。

一：帶有集成補(bǔ)償元件的高頻探針HFS-840 007 051 A 4807 P1-AS（如圖一）和HFS-440 007 051 A 4807 P5-AS 4M（如圖二）

（圖一）     

     

（圖二）

二：為了指定此測(cè)量方案，將執(zhí)行三端口測(cè)量，端口 1 和端口 2 與測(cè)量對(duì)象相連，端口 3 與高頻探針相連（如圖三）

（圖三）

三：如下測(cè)量所示，試樣受探針的影響很小。損失的功率降低了 20 dB。這相當(dāng)于電壓降低了 1/10，例如用示波器測(cè)量時(shí)。通過(guò)短接地，幾乎可以避免寄生耦合。該測(cè)試解決方案特別適用于用示波器自動(dòng)測(cè)試組件。（如圖四）

（圖四）

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